Аннотация
Описывается методика сцинтилляционных спектрометров, разработанная и употребляемая на 35 Мэв бетатроне НИИЯФ МГУ для измерения сечений, а также угловых и энергетических распределений фотопротонных реакций. Излагаются способы, позволившие применять такую методику в условиях сильного электронного и γ-фона. В качестве примера приводятся результаты, полученные при измерении сечения реакции (γ, p) на вольфраме.
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
В.Г. Шевченко, Б.А. Юрьев
НИИЯФ
НИИЯФ