Аннотация
Атомарно-чистые поверхности Ge и Si исследуются методы ЭПР и адсорбционным методом. Выяснены условия образования свободных радикалов на этих поверхностях. На основе анализа экспериментальных данных высказывается гипотеза о возможной природе поверхностных состояний на атомарно-чистых поверхностях Ge и Si.
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Г.Б. Демидович, В.Ф. Киселев
Кафедра общей физики для химиков
Кафедра общей физики для химиков