Аннотация
Рассматривается возможность учета эффекта перезарядки ионов в процессе многократного рассеяния с помощью введения в теорию «эффективного угла экранирования» <χ_α>. Для пучка ионов с известным зарядовым составом этот параметр определяется как среднее взвешенное значений «парциальных углов экранирования» $χ^{(i}_α$ характеризующих рассеяние ионов с различным полным зарядом i. Каждая из величин $χ^{(i)}_α$ получается в результате рассмотрения взаимодействия иона в соответствующем зарядовом состоянии с атомом мишени. Количественные расчеты выполнены для ионов гелия и водорода в алюминии. Полученные результаты хорошо согласуются с имеющимися экспериментальными данными.
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
А.А. Бедняков, А.Ф. Тулинов
НИИЯФ
НИИЯФ