Аннотация
Описана методика и приведены основные результаты исследования толщины и однородности чувствительной области ряда типов кремниевых полупроводниковых детекторов советского и чехословацкого производства. Проводится сопоставление точности и надежности измерений разными методами, что существенно для правильной организации контроля детекторов на предприятиях и в лабораторных условиях.
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Н.В. Алексеев, Е.М. Бурымов, П.В. Вакулов, Ю.И. Денисов, Ж.Д. Юрченко
НИИЯФ
НИИЯФ
Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ
Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.