Особенности дифракции электронов на тонких пластинах ε-мартенсита

Методом электронной микроскопии и дифракции электронов определена структура сплава Fе —20 ат.% Ru после закалки от 900°С. Показано, что сплав состоит из чередующихся тонких прослоек матрицы и ξ-мартенсита. Подобная морфология двухфазного сплава приводит к растяжению узлов обратной решетки и как следствие этого, к появлению на электронограммах экстра-рефлексов, а также рефлексов от двойной дифракции, напоминающих дифракцию от модулированных структур.