Об определении постоянной тонкой структуры $\alpha$ с помощью абсолютного метода измерения яркости

Предлагается способ определения постоянной тонкой структуры $\alpha$, при котором не требуется использования конкретных значений каких-либо эталонов или констант. Точность предлагаемого способа не ограничивается поэтому связанной с их использованием систематической ошибкой. Предложена схема эксперимента по определению $\alpha$, основанная на определении яркости точно рассчитываемого излучения (синхротронного излучения) с помощью абсолютного метода измерения спектральной яркости.