Аннотация
Предложен новый модуляционный метод определения малых времен жизни $(\ge10^{-8} с)$ неравновесных носителей заряда в базе фотопреобразователей. Метод основан на компенсации переменного фототока дополнительным источником. Приведены результаты исследований фотопреобразователей из монокристаллического кремния, облученных интегральным потоком электронов (до $10^{16} см^{-2}$) с энергией 1 мэВ.
English citation: Measurement of short lifetimes of minority charge carriers in silicon solar cells irradiated by fast electrons
0.G. Koshelev, V.A. Morozova, E.Yu. Barinova, G.M. Grigor'eva, E.M. Tkacheva
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
О.Г. Кошелев, В.А. Морозова, Э.Ю. Баринова, Г.М. Григорьева, Е.М. Ткачева
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики полупроводников. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики полупроводников. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2