Физический факультет
Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
МЕНЮ
Статья

Зависимость оптических и спектральных характеристик тонкослойных интерференционных структур от угла падения плоской волны

A.B. Козарь, Е.В. Путрина, О.В. Фионова

Вестн. Моск. ун-та. Сер. 3. Физ. Астрон. 1995. № 3. С. 39

  • Статья
Аннотация

На основе численного эксперимента для тонкослойных интерференционных структур с двумя слоями в периоде исследовано смещение экстремумов пропускания, а также проведено сравнение ширины угловой полосы пропускания для тонкослойных и четвертьволновых структур при различных параметрах структуры. Получены соотношения для определения толщин слоев тонкослойных интерференционных структур, необходимых для согласования подложки при заданном угле падения. Показана возможность как просветления одной подложки при двух различных параметрах одного из слоев в отличие от $\lambda/4$-структур, так и согласования одной структурой двух различных подложек. Показана также возможность согласования на заданной длине волны с помощью одной тонкослойной структуры одновременно при двух различных углах падения.

Авторы
A.B. Козарь, Е.В. Путрина, О.В. Фионова
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра радиофизики. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Выпуск 3, 1995

Moscow University Physics Bulletin

Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ

Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.