Аннотация
Предложен информационный подход к решению задачи экспресс-анализа качества режущих инструментов современными взаимодополняющими методами эксперимента - растровой микроскопии и оптики спеклов.
English citation: Scanning microscopy, speckles, and Gabor's information diagram
Yu.V. Vasil'ev, E.F. Kuritsyna, A.E. Luk'yanov
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Ю.В. Васильев, Е.Ф. Курицына, А.Е. Лукьянов
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра общей физики, кафедра физической электроники. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра общей физики, кафедра физической электроники. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ
Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.