Аннотация
Методом спектроскопии фотоотражения (ФО) исследованы эпитаксиальные гетероструктуры GaAs/Al$_x$Ga$_{1-x}$As с шириной квантовой ямы 10, 20 и 30 нм. При комнатной температуре в спектрах ФО наряду с линиями в области фундаментальных переходов GaAs (1.42 эВ) и Al$_x$Ga$_{1-x}$As (1.74 эВ) наблюдаются спектральные особенности, связанные с размерным квантованием в яме и расщеплением валентной зоны на подзоны тяжелых и легких дырок. Экспериментально полученные значения энергий уровней хорошо совпадают с теоретически рассчитанными в рамках модели огибающей волновой функции.
English citation: Dimensional quantization in GaAs/Al$_x$Ga$_{1-x}$As heterostructures according to photoreflection spectroscopy data
L.P. Avakyants, P.Yu. Bokov, I.P. Kazakov, A.V. Chervyakov
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Л.П. Авакянц$^1$, П.Ю. Боков$^1$, И.П. Казаков$^2$, А.В. Червяков$^1$
$^1$Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра общей физики. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
$^2$Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН
$^1$Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра общей физики. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
$^2$Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН