Недавно разработанный метод сканирующей резистивной микроскопии (СРМ) зарекомендовал себя как высокоточный инструмент для исследования проводящих свойств поверхностей. Он отличается от традиционной атомно-силовой микроскопии тем, что позволяет одновременно получать информацию и о топографии, и о сопротивлении контакта зонда и образца. В данной работе этот метод применялся для исследования проводящих свойств поверхности высокоориентированного пиролитического графита. Ряд экспериментальных фактов, установленных нами, свидетельствует о том, что область применения метода СРМ при проведении исследований нанообъектов на графитовой подложке ограничена пространством атомных террас, поскольку при прохождении атомных ступеней меняется состояние контакта зонда и образца, что оказывает колоссальное влияние на его проводящие свойства.
$^1$Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики полимеров и кристаллов. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
$^2$Институт элементоорганических соединений имени А.Н. Несмеянова РАН. Россия, 119991, Москва, ул. Вавилова, д. 28
$^3$Центр перспективных технологий. Россия, 119311, Москва, ул. Строителей, 4-5-47
Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ
Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.