Аннотация
Получен критерий электрической устойчивости полупроводниковой сверхрешетки, помещенной в продольное электрическое поле в рамках дрейфово-диффузионного приближения. Показано, что учет омичности контакта дает критерий устойчивости, отличный от критерия, связанного с отрицательной дифференциальной проводимостью.
Поступила: 19 июля 2017
Статья подписана в печать: 24 января 2019
PACS:
73.63.-b Electronic transport in nanoscale materials and structures
English citation: The Stability Criterion of a Semiconductor Superlattice
in the Drift–Diffusion Approximation
В. Ч. Жуковский, Н. С. Прудских, С. Е. Головатюк, В. Д. Кревчик, М. Б. Семенов, A. V. Shorokhov
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
В. Ч. Жуковский$^1$, Н. С. Прудских$^2$, С. Е. Головатюк$^2$, В. Д. Кревчик$^3$, М. Б. Семенов$^3$, А. В. Шорохов$^2$
$^1$Московский государственный университет имени М.В Ломоносова, физический факультет, кафедра теоретической физики\
$^2$Национальный исследовательский Мордовский государственный университет\
$^3$Пензенский государственный университет
$^1$Московский государственный университет имени М.В Ломоносова, физический факультет, кафедра теоретической физики\
$^2$Национальный исследовательский Мордовский государственный университет\
$^3$Пензенский государственный университет