Аннотация
Выполнен анализ воздействия высокоэнергетических протонов космического излучения на бортовую электронику космического аппарата. Показано, что протоны могут вызывать ядерные реакции с атомными ядрами материала электроники. Остаточные ядра, образующиеся в результате ядерной реакции, обладают достаточно высокой энергией для пересечения чувствительных областей нескольких битов электроники, а высокая ионизирующая способность ядерных фрагментов позволяет сгенерировать избыточный заряд носителей, превышающий критический заряд для реализации сбоя одновременно в нескольких битах электронного устройства.
Поступила: 29 октября 2023
Статья подписана в печать: 18 марта 2024
PACS:
72.20.Jv Charge carriers: generation, recombination, lifetime, and trapping
English citation: Multibit failures of the spacecraft's onboard electronics from a single particle of cosmic radiation
N. G. Chechenin, N. V. Novikov, A. A. Shirokova
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Н. Г. Чеченин, Н. В. Новиков, А. А. Широкова
$^1$Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, Научно-исследовательский институт ядерной физики имени Д.В. Скобельцына
$^1$Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, Научно-исследовательский институт ядерной физики имени Д.В. Скобельцына