Аннотация
Методом молекулярной динамики смоделированы процессы структурных изменений, происходящие за время порядка 100 нс в области филамента мемристора, сформированного в нестехиометрических оксидах кремния, в том числе подвергнутых ионной имплантации, при формовке и/или переключении. При этом изучено влияние высокой температуры, при которой находится область филамента на определенных стадиях работы мемристора. Показано, что за указанные периоды времени происходят существенные структурные перестройки, заключающиеся в образовании и распаде различных комплексов, что подтверждается расчётами радиальных функций распределения расстояний между атомами в различных комбинациях.
Поступила: 22 мая 2024
Статья подписана в печать: 8 октября 2024
PACS:
02.70.Ns Molecular dynamics and particle methods
02.50.Ey Stochastic processes
02.70.Uu Applications of Monte Carlo methods
02.50.Ey Stochastic processes
02.70.Uu Applications of Monte Carlo methods
English citation: Molecular-dynamic simulation of structural transformations in the conducting channel of memristors based on nostichometric and ion-irradiated silicon oxides
E. V. Okulich, V. I. Okulich, I. G. Kamilevich, D. I. Tetelbaum, A. N. Mikhaylov
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Е. В. Окулич$^1$, В. И. Окулич$^2$, И. К. Гайнуллин$^3$, Д. И. Тетельбаум$^1$, А. Н. Михайлов$^1$
$^1$Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского\
$^2$undefined\
$^3$undefined
$^1$Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского\
$^2$undefined\
$^3$undefined