Статья

Аналитической метод оценки влияния малых потерь в слоях периодических двухкомпонентных просветляющих структур со связанными волновыми толщинами слоёв в периоде на их оптические характеристики

А. Е. Жителев, А. В. Козарь

Вестн. Моск. ун-та. Сер. 3. Физ. Астрон. 2025. № 3. 2530403

Статья

Аннотация

В работе предложен метод оценки влияния малых потерь в слоях периодических двухкомпонентных просветляющих структур на их оптические характеристики при помощи простых аналитических соотношений. Показана работоспособность предложенного метода для различных показателей преломления просветляемых сред, коэффициентов поглощения материалов слоев структуры и числа слоев. Корректность полученных результатов подтверждена численным экспериментом.

Поступила: 5 января 2025

Статья подписана в печать: 14 апреля 2025

PACS:

41.20.-q Applied classical electromagnetism

English citation: An analytical method for estimating the effect of small losses in layers of periodic two-component antireflection structures with coupled wave thicknesses of layers in a period on their optical characteristics

A. E. Zhitelev, A. V. Kozar

Авторы

А. Е. Жителев, А. В. Козарь
$^1$Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова

Выпуск 3, 2025

Moscow University Physics Bulletin

Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ

Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.