Проведено молекулярно-динамическое моделирование высокоэнергетического напыления тонких пленок диоксида кремния, направленное на исследование их важных для современных приложений структурных особенностей. Рассчитаны структурные параметры пленок и показано, что важнейшие расчетные параметры, такие как длины связи, валентные углы и положения пиков радиальной функции распределения хорошо согласуются с экспериментальными данными. Определены относительные концентрации точечных дефектов, влияющих на оптические свойства пленок, включая их лучевую прочность. Использовалась двухступенчатая схема расчетов: моделирование напыления проводилось в рамках двухчастичного силового поля DESIL, позволяющего исследовать пленки технологически значимых размеров, а их структурные параметры рассчитывались в рамках более точного силового поля ReaxFF. Такая схема позволила значительно увеличить численную эффективность моделирования и получить новые более точные данные о концентрации точечных дефектов.
$^1$undefined\
$^2$ФГУП "НИИ НПО «ЛУЧ"



