Dependence of optical and spectral characteristics of thin-layer interference structures on the angle of incidence of the plane wave

На основе численного эксперимента для тонкослойных интерференционных структур с двумя слоями в периоде исследовано смещение экстремумов пропускания, а также проведено сравнение ширины угловой полосы пропускания для тонкослойных и четвертьволновых структур при различных параметрах структуры. Получены соотношения для определения толщин слоев тонкослойных интерференционных структур, необходимых для согласования подложки при заданном угле падения. Показана возможность как просветления одной подложки при двух различных параметрах одного из слоев в отличие от $\lambda/4$-структур, так и согласования одной структурой двух различных подложек. Показана также возможность согласования на заданной длине волны с помощью одной тонкослойной структуры одновременно при двух различных углах падения.