Statistical theory of X-ray diffraction in solid-state superlattices with random fluctuations of structure parameters

Развита статистическая теория кинематической рентгеновской дифракции в полупроводниковых композиционных сверхрешетках (CP) $GaAs/Al_xGa_{1-x}As$, $GaAs/GaAs_xP_{1-x}$ и т. д. со случайными флуктуациями толщины периода или концентрации твердого раствора в слоях СР. Получены аналитические выражения для угловых зависимостей когерентной и некогерентной (диффузной) компонент интенсивности рассеянного излучения. Приведены оценки влияния диффузного поглощения когерентного поля в CP на интенсивности сателлитов.