Аннотация
Предложена и реализована модификация метода дискретных источников, основанная на использовании «фиктивной» частицы. Подобный подход позволяет проводить эффективный численный анализ рассеивающих свойств наноразмерных дефектов подложки, таких как пологая ямка или пологий бугорок. Приведены численные результаты, иллюстрирующие возможности реализованного компьютерного модуля.
Поступила: 1 июля 2013
Статья подписана в печать: 12 февраля 2014
PACS:
42.25.-p Wave optics
42.25.Fx Diffraction and scattering
42.25.Fx Diffraction and scattering
English citation: Employing “Fictitious” particles for analysis of scattering properties of undistinguished substrate defects
Yu.A. Eremin, A.G. Sveshnikov
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Ю.А. Еремин$^1$, А.Г. Свешников$^2$
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1
$^1$факультет вычислительной математики и кибернетики, кафедра математической физики
$^2$физический факультет, кафедра математики
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1
$^1$факультет вычислительной математики и кибернетики, кафедра математической физики
$^2$физический факультет, кафедра математики