Аннотация
Методом когерентной эллипсометрии комбинационного рассеяния света разрешена структура неоднородно уширенной полосы 1445 см$^{-1}$ в циклогексане. Обсуждаются предельные возможности метода по разрешению наложившихся линий КР.
English citation: The study of superposed Raman lines in cyclohexane using method of coherent ellipsometry
L.S. Aslanyan, A.F. Bunkin, S.A. Chupryna
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Л.С. Асланян, А.Ф. Буакин, С.А. Чушрына
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра общей физики и волновых процессов. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д.1, стр.2.
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра общей физики и волновых процессов. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д.1, стр.2.