Сканирование световых пучков в кристалле парателлурита

Изучена дифракция света на ультразвуке в кристалле парателлурита. В диапазоне акустических волн на частотах 8,8$\div$80,0 МГц измерены брэгговские углы падения оптического пучка на ультразвуковой. В частотном диапазоне 30,0$\div$50,5 МГц осуществлено сканирование светового пучка в первом дифракционном порядке с эффективностью дифракции 40$\div$80% при управляющей электрической мощности 120 мВт. Исследованы особенности сканирования с использованием двукратного рассеяния света на ультразвуке. Измеренное разрешение дефлектора на парателлурите $N=330\pm20$ отличается от расчетного значения N=400 на 10-20%. Качественно оценено влияние тепловых воздействий на акустооптическую ячейку.