Статья

Характеристика дефектов, наблюдаемых в растровом электронном микроскопе, в монокристаллах $BaY_2F_8$, применяемых в ВУФ диапазоне частот

К.М. Девяткова, О.Н. Иванова, В.В. Михайлин, Т.В. Уварова, С.П. Чернов

Вестн. Моск. ун-та. Сер. 3. Физ. Астрон. 1988. № 6. С. 24

Статья

Аннотация

Методом растровой электронной микроскопии исследовалась структура монокристаллов $BaY_2F_8$. Полученные результаты свидетельствуют о существенном вкладе структурного фактора в оптические спектры монокристаллов.

English citation: Characterization of defects observed in the scanning electron microscope in single -crystal $BaY_2F_8$ used in the vacuum ultraviolet

К.М. Devyatkova, О.N. Ivanova, V.V. Mikhailin, T.B. Uvarova, and S.Р. Chernov

Авторы

К.М. Девяткова, О.Н. Иванова, В.В. Михайлин, Т.В. Уварова, С.П. Чернов
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра теоретической физики; кафедра квантовой радиофизики. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2

Выпуск 6, 1988

Moscow University Physics Bulletin

Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ

Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.