Аннотация
Методами рентгеновского анализа и электронной микроскопии установлено, что при напылении многослойных пленок Та/Аl на стекло приповерхностный слой имеет аморфную структуру, а последующие кристаллические слои Та и Аl образуют плоскую аксиальную текстуру. В этих пленках возникает сверхрешетка с периодом 72 А. После отжига при 550°С двухслойная микроструктура трансформируется в четырехслойную.
English citation: Microstructure of sputter-deposited multilayer Ta/Al films with superlattice
A.S. Ilyushin, N.A. Khatanova, Wu Zi-Qin (China), Yuan Xiang-yang (China)
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
А.С. Илюшин, Н.А. Хатанова, У Цзи-Чин, Юэн Шян-Янг
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики твердого тела. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики твердого тела. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2