Аннотация
Проведено теоретическое изучение спектральных характеристик (зависимости энергетического коэффициента пропускания от длины волны) тонкослойных (полная оптическая толщина всей структуры меньше полуволновой) интерференционных фильтров. Получены простые аналитические соотношения, позволяющие адекватно определять положение и глубину всех экстремумов на спектральных характеристиках таких фильтров. Изучены и обсуждены особенности спектров рассматриваемых структур и возможности их использования в задачах прикладной оптики. Проведенный на ЭВМ численный анализ подтвердил результаты теории.
English citation: Spectral characteristics of thin-layer interference filters
A.V. Kosar', A.V. Kozlov
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
А.В. Козарь, А.В. Козлов
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра радиофизики. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра радиофизики. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2