Аннотация
Рассмотрен бесконтактный неразрушающий метод определения времени жизни неосновных носителей заряда в базе фотопреобразователя, основанный на измерении конденсаторной фотоэдс. Путем численных расчетов на ЭВМ проведен анализ оптимальных условий применения метода для фотопреобразователей из монокристаллического кремния.
English citation: Measurement of the lifetime of minority charge carriers in solar cells using the dependence of alternating photo е.m.f. on light modulation frequency
О.G. Koshelev and I.V. Mikhailov
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
О.Г. Кошелев, И.В. Михайлов
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики полупроводников. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики полупроводников. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ
Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.