Annotation
Рассмотрен бесконтактный неразрушающий метод определения времени жизни неосновных носителей заряда в базе фотопреобразователя, основанный на измерении конденсаторной фотоэдс. Путем численных расчетов на ЭВМ проведен анализ оптимальных условий применения метода для фотопреобразователей из монокристаллического кремния.
© 2016 Publisher M.V.Lomonosov Moscow State University
Authors
О.G. Koshelev and I.V. Mikhailov
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики полупроводников. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики полупроводников. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2