Аннотация
Представлена модель роста ориентированных тонких пленок, основанная на рассмотрении кинетики системы жестких стержней решеточного газа. Выведены определенные соотношения между молекулярными кинетическими параметрами и величинами, характеризующими рост нормальных и планарных кластеров.
English citation: Kinetics of growth ofthin oriented organic films
Р.V. Shibaev, К. Schamburg, К. Brunfeldt, А.F. Aleksandrov, М.Е. Timofeeva, and N.А. Smirnova
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
П.В. Шибаев$^1$, К. Шамбург$^2$, К. Брюнфельдт$^2$, А.Ф. Александров$^1$, М.Э. Тимофеева$^1$, Н.А. Смирнова$^1$
$^1$ Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физической электроники. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
$^2$ Копенгагенский университет, CISMI, Дания.
$^1$ Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физической электроники. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
$^2$ Копенгагенский университет, CISMI, Дания.