Статья

Оптимизация условий измерения толщины и температуропроводности пленок термоволновым методом

А.А. Карабутов, В.В. Клевицкий, А.П. Кубышкин, В.Я. Панченко

Вестн. Моск. ун-та. Сер. 3. Физ. Астрон. 1997. № 4. С. 20

Статья

Аннотация

Теоретически исследуется задача бесконтактного определения теплофизических характеристик тонкого слоя с помощью лазерно-индуцированных тепловых волн. Конечность диаметра лазерного пучка позволяет находить толщину слоя и его температуропроводность независимо друг от друга. Анализируются импульсный и непрерывный режимы возбуждения тепловой волны, обсуждается вопрос о выборе оптимального режима в зависимости от характеристик исследуемого образца.

English citation: Optimization of film thickness and thermal diffusivity measurement Ьу thermal wave method

А.А. Karabutov, V.V. Кlevitsky, А.Р. Kubyshkin, and V.Ya. Panchenko

Авторы

А.А. Карабутов, В.В. Клевицкий, А.П. Кубышкин, В.Я. Панченко
Россия, 119991, ГСП-1, Москва, Ленинские горы, 1, стр. 62. Международный учебно-научный лазерный центр МГУ им. М.В. Ломоносова

Выпуск 4, 1997

Moscow University Physics Bulletin

Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ

Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.