Аннотация
Работа посвящена анализу рассеяния поляризованного света оксидными микрочастицами, расположенными на подложке с пленкой. Для проведения компьютерного моделирования используется обобщение метода дискретных источников. Проводится анализ влияния пленки и оксидного слоя на характеристики рассеяния частиц.
English citation: Analysis of scattering properties of oxide particles on a multilayer substrate
N.V. Grishina, Yu.A. Eremin, A.G. Sveshnikov
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Н.В. Гришина, Ю.А. Еремин, А.Г. Свешников
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра математики. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра математики. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2