Аннотация
Рассмотрено влияние взаимодействия частиц в конечном состоянии на зависимость дифференциального и полного сечений однократной ионизации от заряда налетающего иона. Показано, что источником слабой зарядовой зависимости сечений однократной ионизации является взаимодействие заряженных частиц в конечном состоянии.
English citation: Effect of the final-state particle interaction on the cross section for the single ionization of the helium atom by multiply charged ions
N.V. Novikov, V.S. Senashenko
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Н.В. Новиков, В.С. Сенашенко
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, Научно-исследовательский институт ядерной физики им. Д.В. Скобельцына (НИИЯФ МГУ). 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, Научно-исследовательский институт ядерной физики им. Д.В. Скобельцына (НИИЯФ МГУ). 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ
Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.