Аннотация
Показана возможность получения субмикронного разрешения в рентгеновском микроскопе, использующем в качестве оптического элемента кристалл-монохроматор в крайне асимметричной схеме дифракции. Изучена зависимость разрешения от параметров установки. Определена оптимальная геометрия эксперимента и длины волн для осуществления субмикронного разрешения.
English citation: X-Ray microscopy with extremely asymmetric reflection from a crystal
A.V. Andreev, A.A. Konovko
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
А.В. Андреев, А.А. Коновко
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра общей физики и волновых процессов. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра общей физики и волновых процессов. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ
Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.