Аннотация
Для определения влияния потенциала поверхности диэлектрических образцов на выход положительных ионов при ионном облучении проведено исследование зависимости тока вторичных частиц от толщины диэлектрических плёнок. Показано, что выход положительных вторичных частиц значительно увеличивается с ростом толщины, если потенциал зарядки плёнки не превышает пробойного значения, определяемого электрической прочностью плёнки. Косвенным подтверждением зарядки плёнки в этих экспериментах служит зависимость от времени тока с держателя образца. Проведена экспериментальная оценка аппаратного эффекта, вызванного эмиссией вторичных электронов из полусферического коллектора. Обсуждаются возможные механизмы наблюдаемых явлений.
Поступила: 30 сентября 2022
Статья подписана в печать: 8 августа 2023
PACS:
79.20.Rf Atomic, molecular, and ion beam impact and interactions with surfaces
34.50.Dy Interactions of atoms and molecules with surfaces; photon and electron emission; neutralization of ions
41.75.Ak Positive-ion beams
34.50.Dy Interactions of atoms and molecules with surfaces; photon and electron emission; neutralization of ions
41.75.Ak Positive-ion beams
English citation: Scattering and ion emission from insulator films
E. Yu. Zykova, A. E. Ieshkin, K. F. Minnebaev, K. E. Ozerova, N. G. Orlikovskaya, E. I. Rau, A. A. Tatarintsev
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Е. Ю. Зыкова, А. Е. Иешкин, К. Ф. Миннебаев, К. Е. Озерова, Н. Г. Орликовская, Э. И. Рау, А. А. Татаринцев
$^1$Физический факультет МГУ имени М.В.Ломоносова..
$^1$Физический факультет МГУ имени М.В.Ломоносова..