Аннотация
Исследована обработка поверхности монокристаллического германия ионно-кластерным пучком аргона. Исходная поверхность пластин германия бомбардировалась кластерными ионами аргона с высокой (105 эВ/атом) и низкой (10 эВ/атом) удельной энергией. Используя атомно-силовой микроскоп, получены изображения и проведено сравнение топографии поверхности до и после ионно-кластерной бомбардировки. С помощью функции спектральной плотности мощности шероховатости продемонстрировано сглаживание поверхности в диапазоне пространственных частот: 1) ν = 1−8 мкм^−1 – для высокоэнергетического режима; 2) ν = 0.7−2.5 мкм^−1 – для низкоэнергетического режима.
Поступила: 18 марта 2024
Статья подписана в печать: 20 мая 2024
PACS:
79.20.Rf Atomic, molecular, and ion beam impact and interactions with surfaces
41.75.Ak Positive-ion beams
41.75.Ak Positive-ion beams
English citation: Effect of cluster ion bombardment on the rough polished surface of single-crystal germanium wafers
I. V. Nikolaev, N. G. Korobeishchikov, A. V. Lapega
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
И. В. Николаев, Н. Г. Коробейщиков, А. В. Лапега
$^1$Новосибирский государственный университет
$^1$Новосибирский государственный университет