Annotation
Сравниваются различные методы численного анализа формы сцинтилляционного импульса в кристалле CsI(Tl), реализованные с помощью микропроцессорного устройства. Показано, что наиболее эффективен численный метод, основанный на сравнении измеренного профиля с эталонным.
© 2016 Publisher M.V.Lomonosov Moscow State University
Authors
А.А. Gusev, М.I. Panasyuk, G.I. Pugacheva, L. Мikhaeli, and Уа. Shagila
Научно-исследовательский институт ядерной физики имени Д.В. Скобельцына, Россия, 119991 Москва, Ленинские горы, д.1, стр.2
Научно-исследовательский институт ядерной физики имени Д.В. Скобельцына, Россия, 119991 Москва, Ленинские горы, д.1, стр.2