Экспериментально исследовано изменение глубины модуляции интерферограммы трехслойного интерферометра в зависимости от относительного смещения максимумов пропускания составляющих слоев. Смещение полос производилось путем вращения интерферометра со слегка клиновидными слоями. Интерферограмма записана фотоэлектрически при сканировании полос равного наклона. Экспериментальное соотношение между контрастностью полос модуляции и относительным смещением привело к установлению аналитической формулы для аппаратной функции интерферометра.
Кафедра оптики и спектроскопии
Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ
Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.