Рентгенографическое определение тензора деформации у монокристаллов Bi и сплавов Bi$_{1-x}$Sb$_x$ $(x \leq 0,1)$ при сильном анизотропном деформировании в кольцевых обоймах

Методом рентгеновской дифрактометрии при температуре жидкого азота получены все компоненты тензора деформации $\varepsilon_{ij}$, и определен характер напряженного состояния образцов монокристаллического Bi и сплавов Bi$_{1-x}$Sb$_x$ $(x \leq 0,1)$, деформированных в кольцевых обоймах по способу, нашедшему широкое применение для создания сильных анизотропных деформаций у полуметаллов.