Аннотация
Методами дифракции медленных электронов и электронной оже-спектроскопии исследована (100) грань кремния. По мере очистки образца от поверхностных примесей зафиксированы $(2\times 1)-$, $p(2\times 2)-$ и $c(4\times 4)$-сверхструктуры. При последующем электронном воздействии ($T=450^{\circ} С$, Е=3 кэВ, $D = 5\cdot 10^{19}$ эл/см$^2$) сверхструктура $c(4\times 4)$, как оказалось, переходит в $(4\times 1)$. С использованием квантово-химического приближения валентных связей построена модель взаимного перехода указанных элементарных ячеек друг в друга.
English citation: The role of structural defects and admixtures in reconstructing a (100) silicon surface
V.V. Burmistrov, E.M. Dubinina, S.S. Elovikov, V.P. Ivannikov
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
В.В. Бурмистров, Е.М. Дубинина, С.С. Еловиков, В.П. Иванников
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра электроники. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра электроники. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2