Физический факультет
Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
МЕНЮ
Статья

Роль структурных дефектов и примесей в реконструкции поверхности кремния (100)

В.В. Бурмистров, Е.М. Дубинина, С.С. Еловиков, В.П. Иванников

Вестн. Моск. ун-та. Сер. 3. Физ. Астрон. 1987. № 2. С. 63

  • Статья
Аннотация

Методами дифракции медленных электронов и электронной оже-спектроскопии исследована (100) грань кремния. По мере очистки образца от поверхностных примесей зафиксированы $(2\times 1)-$, $p(2\times 2)-$ и $c(4\times 4)$-сверхструктуры. При последующем электронном воздействии ($T=450^{\circ} С$, Е=3 кэВ, $D = 5\cdot 10^{19}$ эл/см$^2$) сверхструктура $c(4\times 4)$, как оказалось, переходит в $(4\times 1)$. С использованием квантово-химического приближения валентных связей построена модель взаимного перехода указанных элементарных ячеек друг в друга.

English citation: The role of structural defects and admixtures in reconstructing a (100) silicon surface
V.V. Burmistrov, E.M. Dubinina, S.S. Elovikov, V.P. Ivannikov
Авторы
В.В. Бурмистров, Е.М. Дубинина, С.С. Еловиков, В.П. Иванников
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра электроники. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Выпуск 2, 1987

Moscow University Physics Bulletin

Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ

Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.