Аннотация
Расчетным путем показано, что частичная аморфизация поверхностного слоя может уменьшать абсолютные значения интенсивности интегральных кривых РД ПВО, а наиболее достоверно обнаруживается в осциллирующем поведении «хвостов» дифференциальных кривых РД ПВО.
English citation: Effect of partial amorphization of the surface layer on the integral and
differential glancing X-ray diffraction curves
I.А. Shipov and М.А. Andreeva
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
И.А. Шипов, М.А. Андреева
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики твердого тела. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики твердого тела. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2