В линейном приближении исследована предельная разрешающая способность измерительно-вычислительной системы на базе сканирующего туннельного микроскопа (СТМ). Определена последовательность классов поверхностей возрастающей размерности, в каждом из которых поверхность -восстанавливается с максимальной точностью по результатам измерений на СТМ. Получены зависимости ошибки восстановления координат поверхности от отношения шум/сигнал. Найдены условия оптимальности дискретизации измерений на СТМ, обеспечивающей предельно точное восстановление измеренной поверхности.
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра компьютерных методов физики. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ
Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.