Физический факультет
Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
МЕНЮ
Статья

Экспресс-метод оценки толщин нанометровых пленок-мишеней и его применение в экспериментах по генерации пикосекундного рентгеновского излучения

В.М. Гордиенко, А.Б. Савельев, А.А. Шашков

Вестн. Моск. ун-та. Сер. 3. Физ. Астрон. 2000. № 4. С. 41

  • Статья
Аннотация

Разработан экспресс-метод для определения толщины нанометровой диэлектрической пленки с точностью $\pm$2-3 нм, представляющий собой модификацию эллипсометрического метода и основанный на измерении угла Брюстера при прохождении света через систему пленка-подложка. Полученные результаты использованы в экспериментах по эффективной генерации мягкого рентгеновского излучения в свободновисящих сверхтонких пленках под действием лазерного импульса с интенсивностью $10^{16}$ Вт/см$^2$.

Авторы
В.М. Гордиенко, А.Б. Савельев, А.А. Шашков
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра общей физики и волновых процессов. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Выпуск 4, 2000

Moscow University Physics Bulletin

Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ

Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.