Экспресс-метод оценки толщин нанометровых пленок-мишеней и его применение в экспериментах по генерации пикосекундного рентгеновского излучения

Разработан экспресс-метод для определения толщины нанометровой диэлектрической пленки с точностью $\pm$2-3 нм, представляющий собой модификацию эллипсометрического метода и основанный на измерении угла Брюстера при прохождении света через систему пленка-подложка. Полученные результаты использованы в экспериментах по эффективной генерации мягкого рентгеновского излучения в свободновисящих сверхтонких пленках под действием лазерного импульса с интенсивностью $10^{16}$ Вт/см$^2$.