Влияние перезарядки ионов $^{14}$N и $^{16}$O с энергией 30-330 кэВ/нукл. на их многократное рассеяние в металлических пленках

Измерены дифференциальные и интегральные угловые распределения ионов $^{14}$N и $^{16}$О с начальными энергиями $\varepsilon_0\approx{}$330, 110, 78 и 32 кэВ$/$нукл., рассеянных в пленках Al, Cu, Ag и Au толщиной от $\sim$0.3 до 2.3 мкм. Получены универсальные зависимости полуширины этих распределений от толщины мишеней. Из анализа угловых распределений рассеяния для наиболее тонких пленок найдены величина и зависимость от энергии <эффективного заряда> $i_{\rm sc}$, введение которого в теорию Мольера-Бете позволяет учесть влияние перезарядки ионов в процессе рассеяния.