Аннотация
Приведён метод вычисления параметров межфазного слоя - показателя преломления и толщины интерфейса жидкость-пар из измерений коэффициента эллиптичности ρ при нескольких длинах волн зондирующего света по данным работы [1] для нескольких чистых жидкостей. Поверхностный слой предполагается однородным.
Поступила: 11 февраля 2015
Статья подписана в печать: 18 апреля 2016
PACS:
64.60.A- Specific approaches applied to studies of phase transitions
English citation: Determination of Surface-Layer Parameters
on Pure Liquids via Ellipsometry
S.G.Ili'ina, E.A. Alexeeva
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
С.Г.Ильина, Е.А.Алексеева
Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова, физический факультет, кафедра молекулярной физики. Россия,119991, Москва, Ленинские горы,д1,стр2.
Московский государственный университет имени М.В.Ломоносова, физический факультет, кафедра молекулярной физики. Россия,119991, Москва, Ленинские горы,д1,стр2.