Метод связанных волновых толщин – универсальный метод синтеза интерференционных антиотражающих покрытий (\pi - структуры)

Предложен метод и на его основе построен универсальный алгоритм, включающий полное множество всех структурных решений при синтезе просветляющих многослойных структур. Получены точные аналитические соотношения, позволяющие синтезировать просветляющие структуры с минимально возможным числом слоев для любых, встречающихся на практике значений показателей преломления, как согласуемых сред, так и материалов слоев таких структур. Проведен анализ и обобщение их структурных и согласующих свойств. Корректность полученных точных решений и работоспособность метода подтверждены численным экспериментом.