Сканирующая электрохимическая микроскопия (СЭХМ), позволяющая- получать одновременно топографию и информацию о локальных электрических свойствах поверхности, является разновидностью техник зондовой микроскопии. Благодаря обилию разработанных техник СЭХМ позволяет решать широкий круг задач по исследованию электроактивных свойств материалов. Особый интерес СЭХМ представляет для исследований в области накопителей энергии и, в частности, литий-ионных батарей (ЛИБ). Недавние успехи в исследовании аккумуляторов показали, что электрохимические свойства, демонстрируемые материалами на макроуровне, существенно различаются на микроуровне. Благодаря высокому пространственному разрешению методы СЭХМ дают уникальную информацию о процессах, протекающих в ЛИБ на микро- и наномасштабе. Данный обзор является введением в обширную область СЭХМ и сконцентрирован на основных принципах работы и примерах использования для исследования накопителей энергии.
$^1$Московский Политехнический Университет\
$^2$Национальный исследовательский технический университет МИСиС, Москва, Россия