Аннотация
Приведен метод одновременного и раздельного определения спектральных и дозовых характеристик $\alpha$-, $\beta$- и $\gamma$-излучения, параметров частиц низких энергий, а также типа радионуклидов в исследуемом веществе. Метод основан на одновременном измерении удельных потерь энергии $\Delta E$ частицы и энергии $E$ с использованием полупроводниковых детекторов, а также программируемых запоминающих устройств для хранения предварительно рассчитанной зависимости $\Delta E(E)$ для каждого типа частиц и последующего сравнения с измерениями.
English citation: Method of determination of radioactivity and particle parameters by semiconductor detector systems
Yu.V. Mineev
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Ю.В. Минеев
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет; Научно-исследовательский институт ядерной физики имени Д.В. Скобельцына (НИИЯФ МГУ). Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет; Научно-исследовательский институт ядерной физики имени Д.В. Скобельцына (НИИЯФ МГУ). Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2