Аннотация
Рассмотрен графический метод определения областей устойчивости по свободному параметру систем, описываемых характеристическим уравнением φ$_{n}$(p)+ ψK$_{m}$(p)=0. В отличие от частотных методов, в нем используются более простые графики на действительной плоскости (ω $^{2}$, K). Метод удобен для исследования устойчивости систем высокого порядка и многоконтурных систем. Рассмотрены особенности применения метода в некоторых частных случаях. Работа проиллюстрирована числовыми примерами. В случае систем высокого порядка расчеты удобно проводить на ЦВМ.
English citation: The study of stability of linear and linearized systems by formulae of variable parameter of analytical root locus method
G.A. Bendrikov, V.I. Miftakhоv
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
Г.А. Бендриков, В.И. Мифтахов
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики колебаний. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д.1, стр.2.
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики колебаний. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д.1, стр.2.