Аннотация
Развита статистическая теория кинематической рентгеновской дифракции в полупроводниковых композиционных сверхрешетках (CP) $GaAs/Al_xGa_{1-x}As$, $GaAs/GaAs_xP_{1-x}$ и т. д. со случайными флуктуациями толщины периода или концентрации твердого раствора в слоях СР. Получены аналитические выражения для угловых зависимостей когерентной и некогерентной (диффузной) компонент интенсивности рассеянного излучения. Приведены оценки влияния диффузного поглощения когерентного поля в CP на интенсивности сателлитов.
English citation: Statistical theory of X-ray diffraction in solid-state superlattices with random fluctuations of structure parameters
I.R. Prudnikov
© 2016 Издательство Московского университета
Авторы
И.Р. Прудников
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики твердого тела. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики твердого тела. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2