Статья

Исследование неоднородности тонких пленок спектрофотометрическими методами

Ю.А. Бобровников, А.В. Козарь, К.В. Попов, А.Н. Тихонов, А.В. Тихонравов, М.К. Трубецков

Вестн. Моск. ун-та. Сер. 3. Физ. Астрон. 1997. № 4. С. 24

Статья

Аннотация

Рассматривается возможность применения спектрофотометрического метода для изучения неоднородности тонких пленок. Предлагается иерархический подход к построению математических моделей исследования тонких пленок.

English citation: А spectrophotometric study of thin films inhomogeneity

Yu.A. Bobrovnikov, A.V. Kozar', K.V. Popov, A.N. Tikhonov, A.V. Tikhonravov, and М.К. Тrubetskov

Авторы

Ю.А. Бобровников, А.В. Козарь, К.В. Попов, А.Н. Тихонов, А.В. Тихонравов, М.К. Трубецков
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра математики. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2

Выпуск 4, 1997

Moscow University Physics Bulletin

Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ

Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.