Спектральные зависимости фототока кремниевых фотопреобразователей, облученных протонами со средней энергией 1.6 МэВ, измерены компенсационным электрическим методом в диапазоне энергий фотонов 1.1-1.6 эВ. Показано, что с большой точностью ($1\div2$\%) измеренные спектры согласуются со спектрами, рассчитанными с учетом неоднородности дефектного слоя, созданного протонами. Использованный метод расчета позволяет определить толщину дефектного слоя, среднее время жизни неосновных носителей заряда в этом слое, а также получить информацию о характере распределения дефектов в нем.
Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет, кафедра физики полупроводников; НИИЯФ. Россия, 119991, Москва, Ленинские горы, д. 1, стр. 2
Бюллетень «Новости науки» физфака МГУ
Это новое информационное издание, целью которого является донести до сотрудников, студентов и аспирантов, коллег и партнеров факультета основные достижения ученых и информацию о научных событиях в жизни университетских физиков.