АСМ-наблюдения растущей в водно-спиртовых растворах поверхности кристалла ретгерсита

Проведены исследования роста и растворения кристаллов ретгерсита ($\alpha$-NiSO$_4\cdot6$H$_2$O) it in situ с помощью атомно-силового микроскопа (АСМ) в водных и водно-спиртовых растворах (10-50 мас.% этанола). Внешний вид кристаллов, полученных из водных и водно-спиртовых растворов, одинаков. Спектры комбинационного рассеяния (КР) таких кристаллов идентичны. Показано, что характерные для сульфат-ионов пики на 981 см$^{-1}$ в КР-спектрах растворов ретгерсита после добавления этилового спирта не меняются. Спектры поглощения водных и водно-спиртовых растворов ретгерсита также имеют одни и те же характерные особенности. Методом АСМ в водно-спиртовом растворе получены изображения холмиков роста на грани (001) кристалла ретгерсита непосредственно в процессе роста. Приводится геометрический расчет истинного направления ступеней роста по серии искаженных it in situ АСМ-изображений. Оценен кинетический коэффициент ступеней роста в водном и водно-спиртовом растворе ретгерсита.